Equipos de pruebas automatizados

Los módulos de alimentación de alta densidad y eficiencia de Vicor permiten a los ingenieros de diseño de sistemas ATE implementar arquitecturas de redes de suministro de energía (PDN) que permitirán aumentar el número de pines del cabezal de prueba en un cabezal de prueba de igual o menor tamaño. Los CI para centros de datos, militares, automotrices e industriales consumen cada vez más energía y tienen muchos niveles de voltaje. El enfoque modular de Vicor para las PDN permite a los fabricantes de ATE escalar fácilmente los niveles de potencia y soportar diferentes voltajes para permitir un rápido desarrollo y una rápida salida al mercado.

Los fabricantes de semiconductores exigen cada vez más a las empresas de equipos de pruebas automáticas (ATE) que diseñen sistemas de pruebas que satisfagan la creciente demanda de CI de forma rápida y fiable, y con el menor coste añadido posible. Los fabricantes de CI consideran que el costo de las pruebas (CoT) es un añadido de costos que, aunque es necesario, sólo resta márgenes al producto, requiere cada vez más espacio en la fábrica y no mejora el tiempo de ciclo ni el rendimiento. Los fabricantes de sistemas ATE tienen que desarrollar sistemas de pruebas que satisfagan las necesidades técnicas de los productos de CI y no contribuyan a la pérdida de rendimiento y ocupen el mismo o menor espacio en la fábrica que la generación a la que sustituyen.