Texas Instruments presenta los DAC80501 altamente precisos, de baja potencia y salida de voltaje que tienen un diseño monótono especificado y ofrecen una linealidad de menos de 1 LSB. Estos dispositivos incluyen una referencia interna de 2,5 V, 5 ppm/˚C, que proporciona rangos de voltaje de salida a escala completa de 1,25 V, 2,5 V o 5 V. El DAC80501 incorpora un circuito de encendido y reinicio que asegura que la salida DAC se encienda a escala cero o escala media y permanezca en esa escala hasta que se escriba un código válido en el dispositivo. Estos dispositivos consumen una corriente baja de 1 mA y ofrecen una función de apagado que reduce el consumo de corriente a típicamente 15 µA a 5 V.
La interfaz digital se puede configurar con el pin SPI o I2C. En modo SPI, los DAC utilizan una interfaz serial versátil de 3 hilos que funciona a frecuencias de reloj de hasta 50 MHz. En modo I2C, el DAC80501 funciona en modos estándar (100 kbps), rápido (400 kbps) y muy rápido (1,0 Mbps). El DAC80501 está disponible en un paquete WSON pequeño de 8 pines, fácil de montar, de 2 mm × 2 mm. Estos dispositivos están completamente especificados en el rango de temperatura industrial de -40 °C a +125 °C.
Características
- Rendimiento de 16 bits: 1 LSB INL y DNL (máx.)
- Energía de baja falla: 4 nV-s
- Amplio suministro de potencia: 2,0 V a 5,5 V
- Rangos de salida en búfer: 5 V, 2,5 V o 1,25 V
- Potencia ultrabaja: 1 mA a 5,5 V
- Referencia de precisión integrada de 5 ppm/° (máx.) y 2,5 V
- Interfaz serial seleccionable por pin:
- 3 hilos, compatible con SPI hasta 50 MHz
- 2 hilos, compatible con I2C
- Encendido en reinicio: escala cero o escala media
- 1,62 VIH con 5,5 VDD
- Rango de temperatura: -40 ºC a +125 ºC
- Pequeño paquete WSON de 8 pines
Aplicaciones
- Osciloscopios (DSO)
- Pruebas de semiconductores
- Adquisición de datos (DAQ)
- Pruebas de LCD
- Estaciones base de celdas pequeñas
- Módulos de salida analógica
- Análisis de procesos:
- pH, gas, concentración, fuerza y humedad
- Fuentes de alimentación de CC, fuente de CA y cargas electrónicas