ADC de doble canal ADC32RF45

El dispositivo ADC32RF45 de Texas Instruments es un convertidor analógico a digital de 14 bits, 3 GSPS, de doble canal que admite el muestreo de RF con frecuencias de entrada de hasta 4 GHz y más. Diseñado para obtener una alta relación señal/ruido (SNR), el ADC32RF45 ofrece una densidad espectral de ruido de -155 dBFS/Hz, así como el rango dinámico y el aislamiento de canales en una amplia gama de frecuencias de entrada. La entrada analógica con búfer y con terminación en chip proporciona una impedancia de entrada uniforme a través de un amplio rango de frecuencias y minimiza la energía de fallo de muestra y retención.

Cada canal del ADC se puede conectar a un convertidor descendente digital de doble banda (DDC) con un máximo de tres osciladores controlados numéricamente (NCO) y de 16 bits por DDC, para saltos de frecuencia coherentes con la fase. Además, el ADC está equipado con detectores de potencia RMS y picos de front-end, y funciones de alarmas para admitir algoritmos externos de control de ganancia automática (AGC).

El ADC32RF45 admite la interfaz serial JESD204B con latencia determinística basada en subclase 1, utilizando velocidades de datos de hasta 12.5 Gbps con hasta cuatro carriles por ADC. El dispositivo se ofrece en un paquete VQFN de 72 pines (10 mm x 10 mm) y soporta el rango de temperatura industrial (-40 ºC a +85 ºC).

Enlace de TI Design: diseño de referencia de red eficiente, LDO, fuente de alimentación para RF-muestreo ADC